Traceable determination of the size of nanoparticles using Small-Angle X-ray Scattering

Gleber, Gudrun

Traceable determination of the size of nanoparticles using Small-Angle X-ray Scattering

dc.contributor.advisor	Richter, Mathias	en
dc.contributor.author	Gleber, Gudrun	en
dc.contributor.grantor	Technische Universität Berlin, Fakultät II - Mathematik und Naturwissenschaften	en
dc.date.accepted	2013-04-26
dc.date.accessioned	2015-11-20T22:17:34Z
dc.date.available	2013-05-27T12:00:00Z
dc.date.issued	2013-05-27
dc.date.submitted	2013-05-27
dc.description.abstract	Die Methode der Röntgenkleinwinkelstreuung (Small-Angle X-ray Scattering, SAXS) unter Verwendung eines Synchrotronstrahlrohrs als Röntgenphotonenquelle wurde auf ihre Möglichkeiten als Werkzeug zur rückführbaren Bestimmung der Größe von sphärischen Nanopartikeln untersucht. Verschiedene Parameter wurden auf ihren Beitrag zur Unsicherheit des Wertes des resultierenden Teilchendurchmessers geprüft und ein Computerprogramm entwickelt, um die Datenbilder mit besonderem Augenmerk auf die Rückführbarkeit aufzubereiten und umzuwandeln. Verschiedene Teilchenproben aus unterschiedlichen Materialien und in verschiedenen nominellen Größen zwischen 10 nm und 200 nm wurden untersucht. Die Ergebnisse von sieben dieser Proben wurden mit Ergebnissen verglichen, welche im Rahmen eines Ringvergleichs mit anderen Methoden wie Rasterkraftmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie oder Dynamische Lichtstreuung erzielt wurden. Die Messmethode und die Analyseprozedur einschlielich der verwendeten Software wurden somit als Ergebnis der guten Übereinstimmung mit den Ergebnissen der mikroskopische Methoden validiert.	de
dc.description.abstract	The method of Small Angle X-ray Scattering (SAXS) with a synchrotron radiation beamline as the X-ray source was tested for its potential as a tool for traceable determination of the size of spherical nanoparticles. Several parameters were investigated for their contribution to the uncertainty of the resulting particle diameter. A software for preparing and converting the data images with special focus on traceability was developed. Various particle samples of different materials and nominal dimensions from 10 nm up to 200 nm were analyzed. The results of seven of these samples were checked for consistency with those of different methods as, e.g., atomic force microscopy, scanning electron microscopy, and dynamic light scattering, within an interlaboratory comparison. The measuring method and the analysis procedure including all software were, thus, validated as a result of the good agreement with the results of the microscopic methods.	en
dc.identifier.uri	urn:nbn:de:kobv:83-opus-40009
dc.identifier.uri	https://depositonce.tu-berlin.de/handle/11303/3906
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.14279/depositonce-3609
dc.language	English	en
dc.language.iso	en	en
dc.rights.uri	http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/	en
dc.subject.ddc	530 Physik	en
dc.subject.other	Größenbestimmung	de
dc.subject.other	Nanopartikel	de
dc.subject.other	Röntgenkleinwinkelstreuung	de
dc.subject.other	Rückführbarkeit	de
dc.subject.other	Nanoparticles	en
dc.subject.other	SAXS	en
dc.subject.other	Size determination	en
dc.subject.other	Traceability	en
dc.title	Traceable determination of the size of nanoparticles using Small-Angle X-ray Scattering	en
dc.title.translated	Rückführbare Bestimmung der Größe von Nanopartikeln mittels Röntgenkleinwinkelstreuung	de
dc.type	Doctoral Thesis	en
dc.type.version	publishedVersion	en
tub.accessrights.dnb	free	*
tub.affiliation	Fak. 2 Mathematik und Naturwissenschaften	de
tub.affiliation.faculty	Fak. 2 Mathematik und Naturwissenschaften	de
tub.identifier.opus3	4000
tub.identifier.opus4	3727
tub.publisher.universityorinstitution	Technische Universität Berlin	en

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